Microscopul XJL-302DIC de mare dimensiune pozițional diferențial de interferență fază de alojament este potrivit pentru observarea de interferență fază diferențială reflectantă a morfologiei de suprafață a obiectelor opace, de asemenea, poate fi realizată o observație cu microscopie perspectivă a obiectelor transparente. Utilizarea unui sistem optic infinit de lungă distanță excelent și a conceptului de proiectare funcțională modulară, poate facilita modernizarea sistemului, realizarea observației polarizate, observației diferențiale de interferență și alte funcții, corpul compact și stabil de înaltă rigiditate, care reflectă pe deplin cerințele anti-vibrație ale operațiilor microscopice. Designul ideal pentru a îndeplini cerințele ergonomice face operarea mai ușoară și confortabilă și spațiul mai larg. Aplicat pentru observarea microscopică a țesuturilor metalice și a morfologiei suprafeței, este instrumentul ideal pentru cercetarea metalurgiei, mineralogiei și ingineriei de precizie.